비정상 전원 전압을 이용한 RSA 암호 시스템의 실험적 오류 주입 공격

Vol. 19, No. 5, pp. 195-200, 10월. 2009
10.13089/JKIISC.2009.19.5.195, Full Text:
Keywords: Fault injection attack, CRT-RSA, Source voltage blocking, Voltage glitch, Microcontroller
Abstract

CRT-RSA 알고리즘이 스마트카드나 마이크로컨트롤러 등의 암호 장치에 구현된 경우 레이저 주입, 전자파 방사, 이온 빔 주사, 전압 글리치 주입 등의 오류 주입 기술 등에 의해 CRT-RSA 알고리즘의 비밀 소인수 p, q가 쉽게 노출 될 수 있다. 그 중 전압 글리치 오류는 대상 암호 장치에 어떠한 조작이나 변형 없이 적용 가능하여 보다 실제적이다. 본 논문에서는 비정상 전원 전압을 이용한 오류 주입 공격을 실험하였다. 실험 결과 기존에 알려진 고전압 글리치를 주입하는 방법 외에도 전원 전압을 일정 시간동안 단절함으로써 CRT-RSA의 비밀 소인수 p, q를 알아낼 수 있었다.

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Cite this article
[IEEE Style]
J. Park, S. Moon, J. Ha, "An Experimental Fault Injection Attack on RSA Cryptosystem using Abnormal Source Voltage," Journal of The Korea Institute of Information Security and Cryptology, vol. 19, no. 5, pp. 195-200, 2009. DOI: 10.13089/JKIISC.2009.19.5.195.

[ACM Style]
Jea-Hoon Park, Sang-Jae Moon, and Jae-Cheol Ha. 2009. An Experimental Fault Injection Attack on RSA Cryptosystem using Abnormal Source Voltage. Journal of The Korea Institute of Information Security and Cryptology, 19, 5, (2009), 195-200. DOI: 10.13089/JKIISC.2009.19.5.195.